極化曲線

"由于電流通過電極而導致電極電勢偏離平衡值的現象稱為電極的極化,描述電流密度與電極電勢之間關系的曲線稱作極化曲線。極化曲線測量技術按所控制的變量分類,可將極化曲線測量技術分為控制電流法和控制電位法。"

電化學阻抗

" 電化學阻抗譜技術(EIS)是一種準穩態電化學技術,是用一個角頻率為ω的振幅足夠小的正弦波電流信號對一個穩定的電極系統進行擾動時,相應的電極電位就作出角頻率ω的正弦波響應,從被測電極與參比電極之間輸出一個角頻率是ω的電壓信號,此時的電極系統的頻響函數,就是電化學阻抗。"

開路電位

" 電位時間曲線(EVT)是指工作電極與參比電極之間開路電位隨時間變化的曲線,可用于檢測自然腐蝕電位。自然腐蝕電位是腐蝕金屬電極的一個重要熱力學參數,在研究金屬腐蝕行為及分析腐蝕過程時具有重要意義,在防腐蝕工程技術中廣泛應用。例如:結合電位- pH 圖判斷金屬的腐蝕傾向;在電偶腐蝕中判斷金屬的極性;確定某些局部腐蝕的特征電位和敏感電位區間;在陰極保護工程中,作為重要的技術參數和判據。"

動電位掃描

" 動電位掃描法,也叫線性電位掃描法,就是控制電極電位φ以恒定的速度變化,即dφ/dt=常數,同時測量通過電極的電流就可得到動電位掃描曲線。這種方法在電分析化學中常稱為伏安法。此法又分為單程動電位掃描法、三角波電位掃描法和連續三角波電位掃描法等。"

電化學噪聲

"電化學噪聲技術相對于傳統的腐蝕監測技術的優良特點:第一,它是一種原位無損的監測技術,在測量過程中無須對被測電極施加可能改變腐蝕電極腐蝕過程的外界擾動;第二,它無須預先建立被測 體系的電極過程模型;第三,它無須滿足阻納的三個基本條件;第四,檢測設備簡單,且可以實現遠距離監測。"

石英晶體微天平

" 石英晶體微天平是基于石英晶體的壓電效應對其電極表面質量變化進行測量的儀器,是以AT切石英晶體作為接受器和能量轉換器,利用石英的壓電性質實現能量轉換和傳感的。石英晶體屬D3點群、三方晶系潔凈的各向異性體,具有X軸(電軸)Y軸(機械軸)Z軸(光軸)三個結晶軸。在X軸或Y軸方向施加壓力或拉力,晶體由于形變極化而在相應的晶面上產生等量的正、負電荷(加壓與拉伸產生的電荷極性相反),在Z軸方向施加外力,因硅、氧離子作對稱平移,無電荷形成,這就是石英晶體的正壓電效應。"

開爾文掃描探針

"掃描開爾文探針測量技術是一種測量真空或空氣中金屬表面電子逸出功的方法,采用振動電容交流信號檢測技術,可以不接觸、無損傷的測量金屬表面腐蝕電位及極化曲線,克服了傳統的魯金毛細管方法在薄液膜下測量的局限性,能夠測定極少量液體甚至吸附分散水膜下金屬的電極電位,從技術層面上解決了大氣環境中不連續薄液膜下金屬電極電位的測定方法。"

微區電化學阻抗

" 微區電化學阻抗技術(LEIS)能精確確定局部區域固/液界面的阻抗行為及相應參數,如局部腐蝕速率、涂層(有機、無機)完整性和均勻性、涂層下或與金屬界面間的局部腐蝕、緩蝕劑性能及不銹鋼鈍化/再鈍化等多種電化學界面特性。局部電化學阻抗技術是向被測電極施加一微擾電壓,從而感生出交變電流,通過使用兩個鉑微電極確定金屬表面上局部溶液交流電流密度來測量局部阻抗的技術。"

掃描振動電極

" 掃描振動電極測量技術(SVET)是指在使用掃描振動探針(SVP),不接觸待測樣品表面的情況下,測量局部(電流,電位)隨遠離被測電極表面位置的變化,檢定樣品在液下局部腐蝕電位的一種先進技術。"

掃描電化學顯微鏡

" SECM微探針在非常靠近基底電極表面掃描時,掃描微探針的氧化還原電流具有反饋的特性,并直接與溶液組分、微探針與基底表面距離以及基底電極表面特性等密切相關。因此,掃描測量在基底電極表面不同位置上微探針的法拉第電流圖像,即可直接表征基底電極表面形貌和電化學活性分布。SECM不但可以測量探頭和基底之間的異相反應動力學過程及本體溶液中的均相反應動力學過程,還可以通過反饋電信號描繪基底的表面形貌,研究腐蝕和晶體溶解等復雜過程。"

劃格法

" 當涂層按格陣圖形被切割,并恰穿透至基材時,用于評價涂膜層從基材分離的抗力,也可以用于評價多層涂層體系中各涂層彼此抗分離的能力。劃格時,可使用單刀機械切割裝置或手工切割工具(單刀或多刀),或其他合適的器械。采用任何工具,應能獲得均勻、整齊劃的格陣圖形;刀刃及其荷載,應能正好穿透涂層而觸及基材;相垂直的兩個方向上,每一方向切割線數應是6或11,切割間距應為1 mm或2 mm;劃格法結果按6級評價分類。"

擺桿法

" 擺桿法是利用阻尼作用評定涂膜層硬度的“振蕩法”。接觸涂膜表面的擺桿以一定周期擺動時,如涂膜表面越軟,則擺桿的擺幅衰減越快;反之,衰減越慢。常用科尼格擺和珀蘇茲擺的兩種擺桿式阻尼試驗儀。以測定的阻尼時間為試驗結果,表征涂膜層硬度。操作步驟如下:選擇一種擺桿式阻尼試驗儀。將被測的試片涂膜面朝上,置于水平工作臺上;將擺桿偏轉一定角度(科尼格擺為6°,珀蘇茲擺為12°),停在預定的停點處;松擺,開動秒表,記錄擺幅由6°衰減到3°或有12°衰減到4°的時間,以秒計。"

壓痕法

" 厚膜涂層的硬度可采用布氏硬度來測定,此為壓痕法的一種。基材可用鐵板,涂層厚度2~3mm,壓痕法測涂層硬度試樣如圖1所示。把一定直徑鋼球在規定負荷作用下壓入涂膜層表面,保持1min后,以涂膜表面壓痕深度或壓痕直徑來計算單位面積上承受的力,即為該涂膜層的硬度值。"

重量分析法

" 厚膜涂層的硬度可采用布氏硬度來測定,此為壓痕法的一種。基材可用鐵板,涂層厚度2~3mm,壓痕法測涂層硬度試樣如圖1所示。把一定直徑鋼球在規定負荷作用下壓入涂膜層表面,保持1min后,以涂膜表面壓痕深度或壓痕直徑來計算單位面積上承受的力,即為該涂膜層的硬度值。"

輪廓儀法

" 輪廓儀法運用表面輪廓儀測量。該儀器有一個往復移動的觸針,觸針與合適的具有放大和記錄功能的裝置相連。為了測量漆膜厚度,要先除去涂層的某一部份,再用儀器來記錄底材與圖層間形成的凸起部分的輪廓,如圖1所示。選擇具有與底材和漆膜表面的不平整度最匹配的觸針尖端半徑且能自由移動的觸針的粗糙度儀或輪廓量規是最合適的。"

直接稱量法

" 孔隙率是表征涂層密實程度的度量。不同功能的涂層對孔隙率的要求不同。用不同方法制備的涂層其孔隙率也不盡相同。涂層孔隙率測定方法很多,大致分為如下幾種:(1)物理法。包括浮力法、直接稱量法。(2)化學法。包括濾紙法、涂膏法、浸漬法。濾紙法測涂層孔隙率是目前生產中常用的方法,可用于測定鋼鐵或者銅合金基體上銅、鎳鉻、錫等單金屬涂層和多金屬涂層的孔隙率。(3)電解顯相法。(4)顯微鏡法。"

浮力法

"浮力法是指將涂層從試樣基體上剝離下來,并在其表面涂上一層凡士林,用細金屬絲吊起來。分別測出被測涂層在空氣中和水中的不同質量,計算孔隙率。"

涂膏法

"涂膏法除與鐵試劑法適用范圍相同外,還適用于曲面形狀式樣。其原理與于鐵試劑法相同,只是將鐵試劑法中濾紙改為膏狀物代替。具體過程是:將含有試液的膏狀物均勻涂敷在經過清潔和干燥處理的試樣表面。膏狀物中的試液滲入涂層孔隙,與基體金屬作用,生成具有特征顏色的斑點,對膏體上有色斑點數目進行計數,即可得到涂層孔隙率。"

鐵試劑法

" 鐵試劑法測涂層孔隙率是目前生產中常用的一種方法。適應于測定鋼鐵基體上各種不與氯化鈉和鐵氰化鉀溶液發生化學作用的熱噴涂涂層,如鋁、錫、鉛、銅等有色金屬涂層,塑料涂層和陶瓷涂層上的貫穿性孔隙率。 試驗原理是基體金屬被腐蝕產生離子,離子透過孔隙由指示劑在濾紙上產生特征顯色作用及在臺測涂層表面上刷上試驗液后貼上濾紙,試驗液沿涂層孔隙抵達基體表面并引起腐蝕產生離子。基體金屬離子沿孔隙并在試驗液中指示劑作用下在濾紙上留下斑點。根據斑點多少,即可計算出涂層孔隙率。"

顯微鏡法

"用一定倍率的金相顯微鏡直接觀測涂層表面孔隙,或者對涂層按順序取平行截面觀察其孔隙率,或者通過掃描電鏡直接觀察涂層截面(或表面)孔隙率。"

浸水法

" 常溫浸水法是指將涂膜試片用1:1 的石蠟和松香混合物封邊;然后把涂膜試片的2/3面積浸入25±1℃的蒸餾水中,待達到規定的浸泡時間后取出;用濾紙吸干,在恒溫恒濕條件下以目測觀察。如涂膜有剝落、起皺為不合格;如有氣泡、失光、變色、生銹等,記錄其現象和恢復時間,按鏟平規定判斷是否合格。也可用儀器來測定失光率和附著力的下降程度。"
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