掃描電化學顯微鏡
2016-05-31 10:26:36

SECM微探針在非常靠近基底電極表面掃描時,掃描微探針的氧化還原電流具有反饋的特性,并直接與溶液組分、微探針與基底表面距離以及基底電極表面特性等密切相關。因此,掃描測量在基底電極表面不同位置上微探針的法拉第電流圖像,即可直接表征基底電極表面形貌和電化學活性分布。SECM不但可以測量探頭和基底之間的異相反應動力學過程及本體溶液中的均相反應動力學過程,還可以通過反饋電信號描繪基底的表面形貌,研究腐蝕和晶體溶解等復雜過程。

總體概況

       掃描電化學顯微鏡(SECM)是基于掃描隧道顯微鏡發展而產生出來的一種分辨率介于普通光學顯微鏡與STM之間的電化學原位測試新技術。SECM的最大特點是可以在溶液體系中對研究系統進行實時、現場、三維空間觀測,有獨特的化學靈敏性。

詳細介紹

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       SECM微探針在非常靠近基底電極表面掃描時,掃描微探針的氧化還原電流具有反饋的特性,并直接與溶液組分、微探針與基底表面距離以及基底電極表面特性等密切相關。因此,掃描測量在基底電極表面不同位置上微探針的法拉第電流圖像,即可直接表征基底電極表面形貌和電化學活性分布。SECM不但可以測量探頭和基底之間的異相反應動力學過程及本體溶液中的均相反應動力學過程,還可以通過反饋電信號描繪基底的表面形貌,研究腐蝕和晶體溶解等復雜過程。

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